Показать предыдущую страницу документа Показать следующую страницу документа
<p>чувствительностью в диапазоне длин
волн от более 1200 нм до
30 000 нм;
6.1.2.1.3.4. Линейные (одномерные) решетки 8541 40 900 0
фокальной плоскости, непригодные
для применения в космосе, имеющие
все следующие составляющие:
а) отдельные элементы с
максимальной чувствительностью в
диапазоне длин волн от 1200 нм до
2500 нм включительно; и
б) любое из следующего:
отношение размера в направлении
сканирования детекторного элемента
к размеру в направлении поперек
сканирования детекторного элемента
менее 3,8; или
обработку сигналов в элементе;
6.1.2.1.3.5. Линейные (одномерные) решетки 8541 40 900 0
фокальной плоскости, непригодные
для применения в космосе, имеющие
отдельные элементы с максимальной
чувствительностью в диапазоне длин
волн от 2500 нм до 30 000 нм
включительно
Технические примечания:
1. Линейные или двухмерные
многоэлементные детекторные
решетки относятся к решеткам
фокальной плоскости
2. Для целей пункта 6.1.2.1.3
"направление поперек сканирования"
определяется как ось, параллельная
линейке детекторных элементов, а
"направление сканирования"
определяется как ось,
перпендикулярная линейке
детекторных элементов
Примечания:
1. Пункт 6.1.2.1.3 включает
фотопроводящие и фотоэлектрические
решетки
2. По пункту 6.1.2.1.3 не
контролируются:
а) кремниевые решетки фокальной
плоскости;
б) многоэлементные (не более 16
элементов) фотопроводящие ячейки,
использующие сульфид или селенид
свинца;
в) пироэлектрические детекторы на
основе любого из следующих
материалов:
триглицинсульфата и его
производных;
титаната свинца-лантана-циркония и
его производных;
танталата лития;
поливинилиденфторида и его
производных; или
ниобата бария-стронция и его
производных
3. По пункту 6.1.2.1.3 следующие
решетки фокальной плоскости не
включены в настоящий раздел:
а) решетки фокальной плоскости на
силициде платины (PtSi), имеющие
менее 10 000 элементов;
б) решетки фокальной плоскости на
силициде иридия (IrSi)
в) решетки фокальной плоскости на
антимониде индия (InSb) или
селениде свинца (PbSe), имеющие
менее 256 элементов;
г) решетки фокальной плоскости на
арсениде индия (InAs);
д) решетки фокальной плоскости на
сульфиде свинца (PbS); или
е) решетки фокальной плоскости на
соединениях индий-арсенид-галлий
(InGaAs);
ж) решетки фокальной плоскости с
потенциальной ямой, выполненные на
основе арсенида галлия (GaAs) или
галлий-алюминий-мышьяка (GaAlAs),
имеющие менее 256 элементов;
з) пироэлектрические или
ферроэлектрические решетки
фокальной плоскости (содержащие
титанат бария-стронция, титанат
цирконата свинца или титанат
свинца-скандия), имеющие менее
8000 элементов;
и) нитридванадиевые
оксидсиликоновые микроболо-
метрические решетки фокальной
плоскости, имеющие менее
8000 элементов
4. По пункту 6.1.2.1.3 следующие
решетки фокальной плоскости на
основе ртуть-кадмий-теллур
(HgCdTe) не включены в настоящий
раздел:
а) сканирующие решетки, имеющие:
30 элементов или менее; или
реализующие поэлементное включение
времени задержки и интегрирования
и имеющие два или менее элемента;
или
б) широкообзорные решетки, имеющие
менее 256 элементов
Технические примечания:
1. Сканирующие решетки
определяются как решетки фокальной
плоскости, разработанные для
использования в сканирующих
оптических системах, которые
формируют общую картину методом
последовательного формирования
отдельных изображений
2. Широкообзорные решетки
определяются как решетки фокальной
плоскости, разработанные для
использования с несканирующей
оптической системой, которая
формирует общую картину
Примечание.
По пункту 6.1.2.1 не
контролируются германиевые или
кремниевые фотоустройства
6.1.2.2. Моноспектральные датчики 8540 89 000 0
изображения и многоспектральные
датчики изображения, разработанные
для применения при дистанционном
зондировании и имеющие любую из
следующих характеристик:
а) мгновенное поле обзора (МПО)
менее 200 мкрад; или
б) разработанные для
функционирования в диапазоне длин
волн от 400 нм до 30 000 нм и
обладающие всеми
нижеперечисленными свойствами:
обеспечивающие выходные данные
изображения в цифровом формате;
пригодные для применения в космосе
или разработанные для
функционирования на борту
летательного аппарата при
использовании некремниевых
детекторов; и
имеющие МПО менее 2,5 мрад
6.1.2.3. Оборудование прямого наблюдения
изображения, работающее в видимом
диапазоне или ИК-диапазоне и
содержащее любую из следующих
составляющих:
6.1.2.3.1. Электронно-оптические 8540 20 800 0;
преобразователи, имеющие 8540 99 000 0;
характеристики, указанные в пункте 9005
6.1.2.1.2; или
6.1.2.3.2. Решетки фокальной плоскости, 8540 99 000 0;
имеющие характеристики, указанные 9005
в пункте 6.1.2.1.3
Техническое примечание.
Под оборудованием прямого
наблюдения изображения
подразумевается оборудование для
получения изображения, работающее
в видимом диапазоне или ИК-
диапазоне, которое представляет
визуальное изображение человеку-
наблюдателю без преобразования
изображения в электронный сигнал
для телевизионного дисплея и
которое не может записывать или
сохранять изображение
фотографически, а также
электронным или другим способом
Примечание.
По пункту 6.1.2.3 не
контролируется следующее
оборудование, содержащее
фотокатоды на материалах, отличных
от GaAs или GaInAs:
а) промышленные или гражданские
системы охранной сигнализации,
системы управления движением
транспорта или производственным
движением и системы счета;
б) медицинское оборудование;
в) промышленное оборудование,
используемое для инспекции,
сортировки или анализа свойств
материалов;
г) датчики контроля пламени для
промышленных печей;
д) оборудование, специально
разработанное для лабораторного
использования
6.1.2.4. Решетки фокальной плоскости, 9013 80 900 0
пригодные для применения в
космосе, имеющие более 2048
элементов на решетку и
максимальную чувствительность в
диапазоне длин волн от 300 нм до
900 нм
6.1.3. Камеры
6.1.3.1. Камеры формирования изображения:
6.1.3.1.1. Камеры формирования изображений, 8525 40
содержащие электронно-оптические
преобразователи, имеющие
характеристики, указанные в
пункте 6.1.2.1.2;
6.1.3.1.2. Камеры формирования изображений, 8525 40
включающие решетки фокальной
плоскости, имеющие характеристики,
указанные в пункте 6.1.2.1.3
Примечание.
По пункту 6.1.3.1.2 не
контролируются камеры формирования
изображений, содержащие линейные
решетки фокальной плоскости с 12
или меньшим числом элементов, не
применяющих задержку по времени и
интегрирование в элементе,
разработанные для любого из
следующего:
а) промышленных или гражданских
систем охранной сигнализации,
систем управления движением
транспорта или производственным
движением и систем счета;
б) производственного оборудования,
используемого для контроля или
мониторинга тепловых потоков в
зданиях, оборудовании или
производственных процессах;
в) производственного оборудования,
используемого для контроля,
сортировки или анализа свойств
материалов;
г) оборудования, специально
разработанного для лабораторного
использования;
д) медицинского оборудования
Примечание.
По пункту 6.1.3.1 не
контролируются телевизионные или
видеокамеры, специально
разработанные для телевизионного
вещания
6.1.4. Оптика
6.1.4.1. Компоненты для оптических систем,
пригодные для применения в
космосе:
6.1.4.1.1. Оптические элементы облегченного 9001 90 900 0;
типа с эквивалентной плотностью 9002 90 900 0
менее 20 % по сравнению со
сплошной заготовкой с теми же
апертурой и толщиной;
6.1.4.1.2. Необработанные подложки, 7014 00 000 0;
обработанные подложки с 9001 90 900 0
поверхностным покрытием
(однослойным или многослойным,
металлическим или диэлектрическим,
проводящим, полупроводящим или
изолирующим) или имеющие защитные
пленки;
6.1.4.1.3. Сегменты или системы зеркал, 9001 90 900 0;
предназначенные для сборки в 9002 90 900 0
космосе в оптическую систему с
приемной апертурой, равной или
больше одного оптического метра в
диаметре;
6.1.4.1.4. Изготовленные из композиционных 9003 90 000 0
материалов, имеющих коэффициент
линейного термического расширения,
-6
равный или менее 5 х 10 в любом
направлении
6.1.4.2. Оборудование оптического контроля:
6.1.4.2.1. Специально разработанное для 9031 49 000 0;
поддержания профиля поверхности 9032 89 900 0
или ориентации оптических
компонентов, пригодных для
применения в космосе,
контролируемых по пункту 6.1.4.1.1
или 6.1.4.1.3;
6.1.4.2.2. Имеющее управление, слежение, 9031 49 000 0;
стабилизацию или юстировку 9032 89 900 0
резонатора в полосе частот, равной
или выше 100 Гц, и погрешность
10 мкрад или менее;
6.1.4.2.3. Кардановы подвесы, имеющие все 8412 21 910 9;
следующие характеристики: 8412 31 900 0;
а) максимальный угол поворота 8479 89 980 0;
о 9032 81 900 0;
более 5 ; 9032 89 900 0
б) ширину полосы, равную или выше
100 Гц;
в) ошибки угловой наводки, равные
или меньше 200 мкрад; и
г) имеющие любую из следующих
характеристик:
диаметр или длину главной оси
более 0,15 м, но не более 1 м и
допускающие угловые ускорения
2
более 2 рад/с ; или
диаметр или длину главной оси
более 1 м и допускающие угловые
2
ускорения более 0,5 рад/с ;
6.1.4.2.4. Специально разработанное для 9032 89 900 0
поддержания юстировки фазированной
решетки или систем зеркал с
фазированными сегментами,
содержащее зеркала с диаметром
сегмента или длиной главной оси
1 м или более
6.1.5. Магнитометры
6.1.5.1. Магнитокомпенсационные системы для 9015 80 930 0
магнитных датчиков, разработанных
для применения на подвижных
платформах
Примечание.
В пункт 6.1.5.1 не включены
компенсаторы, которые обеспечивают
только абсолютные значения
геомагнитного поля на выходе, то
есть ширину полосы выходного
сигнала от 0 Гц до, по крайней
мере, 0,8 Гц;
6.1.5.2. Сверхпроводящие электромагнитные 9015 80 930 0
датчики, содержащие компоненты,
изготовленные из сверхпроводящих
материалов и имеющие все следующие
составляющие:
а) специально разработанные для
работы при температурах ниже
критической температуры по меньшей
мере одного из компонентов
сверхпроводников (включая
устройства на эффекте Джозефсона
или сверхпроводящие устройства
квантовой интерференции (СКВИДы);
б) специально разработанные для
измерений вариаций
электромагнитного поля на частотах
1 кГц или ниже; и
в) имеющие любую из следующих
характеристик:
встроенные тонкопленочные СКВИДы с
минимальным размером элемента
менее 2 мкм и с соответствующими
схемами соединения входа и выхода;
разработанные для функционирования
при максимальной скорости
нарастания магнитного поля более
6
10 квантов магнитного потока в
секунду;
разработанные для функционирования
без магнитного экрана в окружающем
земном магнитном поле; или
имеющие температурный коэффициент
менее 0,1 кванта магнитного
потока, деленного на Кельвин
Примечание.
По пунктам 6.1.5.1 и 6.1.5.2 не
контролируются инструменты,
специально разработанные для
биомагнитных измерений медицинской
диагностики
Радиолокаторы
6.1.6. Локационные системы, оборудование
и узлы, имеющие любую из следующих
характеристик:
6.1.6.1. Имеют возможность работы в режимах 8526 10
РЛС с синтезированной апертурой
или обратной синтезированной
апертурой или в режиме локатора
бокового обзора воздушного
базирования;
6.1.6.2. Используют обработку сигналов 8526 10
локатора с применением:
а) методов расширения спектра РЛС;
или
б) методов радиолокации с быстрой
перестройкой частоты;
6.1.6.3. Имеют подсистемы обработки сигнала 8526 10
со сжатием импульса с любой из
следующих характеристик:
а) коэффициентом сжатия импульса
более 150; или
б) шириной импульса менее 200 нс;
или
6.1.6.4. Имеют подсистемы обработки данных 8526 10
для автоматического распознавания
образов (выделение признаков) и
сравнения с базами данных
характеристик цели (формы сигналов
или формирование изображений) для
идентификации или классификации
целей
Примечание.
По пункту 6.1.6 не контролируются:
а) обзорные РЛС с активным
ответом;
б) автомобильные РЛС,
предназначенные для предотвращения
столкновений;
в) дисплеи или мониторы,
используемые для управления
воздушным движением (УВД), имеющие
не более 12 различимых элементов
на 1 мм;
г) метеорологические локаторы
6.2. Испытательное, контрольное и
производственное оборудование
Радиолокаторы
6.2.1. Импульсные локационные системы для 8526 10 900 0
измерения поперечного сечения,
имеющие длительность передаваемых
импульсов 100 нс или менее, и
специально разработанные для них
компоненты
6.3. Материалы - нет
6.4. Программное обеспечение
6.4.1. Программное обеспечение,
специально разработанное для
разработки или производства
оборудования, контролируемого по
пункту 6.1.4, 6.1.6 или 6.2.1
6.4.2. Иное нижеследующее программное
обеспечение:
6.4.2.1. Программное обеспечение,
специально разработанное для
формирования акустического луча
при обработке в реальном масштабе
времени акустических данных для
пассивного приема с использованием
буксируемых гидрофонных решеток;
6.4.2.2. Исходная программа для обработки в
реальном масштабе времени
акустических данных для пассивного
приема с использованием
буксируемых гидрофонных решеток;</p>